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Microscope électronique à balayage

meb
Permet des grossissements jusqu’à 300 000X à des voltages d’accélération de 0.3 à 30 kV. Peut être opéré en mode de vide poussé (high vacuum) ou sous un vide moins poussé de 10-270 Pa, ce qui permet d’observer des spécimens non-conducteurs sans recourir au recouvrement par des métaux.